| 涂镀层测厚仪MiniTest1100德国EPK(Elektrophysik)公司 德国EPK(Elektrophysik)公司
涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；
所有型号均可配所有探头；
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；
可使用一片或二片标准箔校准。 德国EPK(Elektrophysik)公司 涂镀层测厚仪MiniTest1100技术特征
| 型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 | | MINITEST 存储的数据量 | | 应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1 | 1 | 10 | 99 | | 每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值) | | 1 | 10 | 99 | | 可用各自的日期和时间标识特性的组数 | | 1 | 500 | 500 | | 数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 | | MINITEST统计计算功能 | | 读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ | | 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | | 组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ | | 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ | | 存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | | | | √ | | 分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | | | √ | √ | | 显示并打印测量值、打印的日期和时间 | | √ | √ | √ | | 其他功能 | | 设置极限值 | | | √ | √ | | 连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值 | | | √ | √ | | 连续测量模式中测量稳定后显示读数 | | | √ | √ | | 连续测量模式中显示最小值 | | | √ | √ |
德国EPK(Elektrophysik)公司 涂镀层测厚仪MiniTest1100可选探头参数:
所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能
探头 | 量程 | 低端
分辨率 | 误差 | 最小曲率半径
(凸/凹) | 最小测量
区域直径 | 最小基
体厚度 | 探头尺寸 | 磁
感
应
法 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm | F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170mm | F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | 两
用
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50μm | φ21x89mm | FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50μm | φ15x62mm | 电
涡
流
法 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm | N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 50μm | φ15x62mm | N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x13x170mm | N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 无限制 | φ17x80mm |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。 |
