日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪

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产品名称	日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
品牌	广精
产地	广州
参考价格
备注	暂无
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日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪【详细说明】

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪
QM-Height高精度数字测高仪，带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD·精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度，可满足最严酷条件下的测量需求。它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身，而且还依靠阶梯量块，可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。此外，测量后获得的所有九种测数据均可随时存取，以便进一步作更安全和全面的计算。* 扫描测量行程：离测量起点上下1mm。·装有新开发的绝对式光栅尺·带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果，使LCD的背光随之发生相应变化。·易于参照识别的图标键·凭借手轮，在导轨上下移动进行测量凭借手轮，选择粗调或微调进给量，进行手工测量。
日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪特点：　
QM-Height高精度数字测高仪，带有合格/±超差判断和背光照明功能的大屏幕LCD
·精度极高、性能全面、易于使用QM-Height系列数字测仪具有±(2.8+5L/1000)μm的极高精度，可满足最严酷条件下的测量需求。
它的测量精度不仅仅依赖于测高仪本身，而且还依靠阶梯量块，可进行最大/最小值和位移形状表面以及内/外宽度、内/外径、圆心距和*扫描测量。
此外，测量后获得的所有九种测数据均可随时存取，以便进一步作更安全和全面的计算。
* 扫描测量行程：离测量起点上下1mm。
·装有新开发的绝对式光栅尺
·带背光的(红色和绿色)合格/±超差判断装置测量仪根据公差上下限的判断结果，使LCD的背光随之发生相应变化。
·易于参照识别的图标键
·凭借手轮，在导轨上下移动进行测量凭借手轮，选择粗调或微调进给量，进行手工测量。

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪技术参数：
　

mitutoyo一维高精度测高仪的详细介绍

技术参数
货号		518-224	518-225	518-226	518-227
测量范围		0-350mm	0-600mm	0-14＂/0-350mm	0-24＂/0-600mm
分辨率(可选)		0.001mm,0.005mm		.00005＂,.0001＂,.0002＂/0.001mm,0.005mm
20℃时的精度	指示精度*1	±(2.8+5L/1000)μm
	重复精度*1	2б≤1.8μm
	垂直度*2	6μm	13μm	6μm	13μm
导轨支承		滚柱轴承
传动方式		手工操作
测长装置		容栅
测量力		1.6±0.5N
显示器		LCD
电源		AC/电池(LR6×4)
电池寿命*3		约260小时(不使用背光时)
		约260小时(当背光在节电状态下使用时，按每天8小时测量100次计算)
		约6小时(当背光在满负荷状态下使用时)
重量		22kg	27kg	22kg	27kg
工作温度范围		10至30℃
工作湿度范围		20至80%RH
标准附件		测头直径校验量块，带φ5圆球测头的标准测杆夹持器(05HZA148)，辅助把手，碱性电池(LR6)

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪技术参数：
　一维高精度测高仪 QM-Height系列高精度数显测高仪

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪测量示意：　　

日本Mitutoyo一维高精度测高仪/QM-Height系列高精度数显测高仪典型配置

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